塔式紫外线试验箱光照辐射老化测试

塔式紫外线试验箱光照辐射老化测试

技术规格
1、温度范围：RT+10℃～70℃
2、范围：≥95%R.H
3、温度波动度：≤±0.5℃
4、温度均匀度：≤±2℃
5、波动度：≤±2%
6、均匀度：≤ ±2%
7、黑板温度：40℃～65℃
8、灯管间距离：35mm
9、样品与灯管距离：50mm
10、灯管功率：40W
11、紫外波长：290nm～400nm(订货时说明）
12、模拟凝露：凝露系统时间可调
13、紫外光暴露、模拟凝露时间范围：0～99小时
14、支持样板：150×75(mm)
15、样板数量：约40块
16、试验时间：0～9999H  可调
17、辐照度范围：≤50w/m2

控制系统:
采用黑色铝板连接温度传感器，采用黑板温度仪表控制加热，温度更稳定。辐射计探头采用固定式，无须每次装卸。
辐射量采用高精度显示和测量的紫外线辐照计。
辐射度不大于50W/m2。
光照和冷凝可独立控制可以交替循环控制。
光照和冷凝的独立控制时间和交替循环控制的时间可在一千小时内任意设置。

试验箱标准配置
1、在工作室的两边共安装8支UV紫外灯管
2、样品架夹具数量:20块
3、样品架夹具尺寸:404×105(mm)
4、加热方式为内胆水槽式加热，升温快，温度分布均匀
5、排水系统使用回涡型及U型积沉装置排水
6、试样表面与紫外灯平面距离为50毫米且相平行
7、实际工作室由试验样品和支架构成箱体内壁，梯形状
8、内胆水位自动补水
9、箱盖为双向翻盖式 ，开闭轻松自如
10、试验箱底部采用高品质可固定式PU活动轮

显示器
试验箱采用智能型TZN4-14S系列韩国奥托尼克斯温控仪，控制精度0.1℃
薄膜式 KEY BOARD
温度控制均采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制，可提高控制元件与界面使用之稳定性及寿命

塔式紫外线试验箱光照辐射老化测试