科研室芯片冷热冲击试验箱

科研室芯片冷热冲击试验箱

冷热冲击试验箱又名高低温冲击测试箱，它是一种电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等工业，国防工业、航天、兵工、BGA、PCB基扳、电子晶片IC、半导体陶瓷及聚合物之物理性变体，以测试其材料对高冷性变体的反复抵触拉力及产品在低温下所造成的化学变体或物理伤害，从精密IC到重机械元件，均无所需的理想测试工具，以测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极热和极低温度条件下所造成的化学变体或物理伤害。

科研室芯片冷热冲击试验箱

产品用途:
冷热冲击箱适用于电子、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

结构特点:
1、产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。
2、冷热冲击箱分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采用*的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
3、采用先进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠。中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
4、箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。
5、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲、冷热冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
6、具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。
7、先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角。
8、完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性。

高低温冲击试验箱执行与满足标准:

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. 标GJB150.3-86;

5. 标GJB150.4-86;

6. 标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。