芯片读卡器检测恒温恒试验箱 温设备

芯片读卡器检测恒温恒试验箱 温设备

技术参数：

1.温度范围：-70℃～150

2.范围：20%～98%R.H

3.温度均匀度：≤±2℃ （空载时）

4.均匀度：+2% -3%R.H

5.温度波动度：≤±0.5℃ （空载时）

6.波动度：±2%

7.温度偏差：≤±2℃

8.偏差：≤±2%

9.降温速率：0.7～1.0℃/min

10.升温速率：1.0～3.0℃/min

11.时间设定范围：0～999 小时

12.电源电压：380V±10%

13.设备总功率：3KW～15KW

芯片读卡器检测恒温恒试验箱 温设备

恒温恒湿试验箱主要特点：

1、精美的造型设计：圆弧造型及表面喷塑处理，高质感外观，并采用平面无反作用把手，操作容易。

2、明亮，视野宽广的大型观察窗：采用三层真空镀膜视窗和飞利浦节能荧光灯，无须雨刷除雾，保持清晰的观测效果，可随时观察试品的状况。

3、加湿系统管路与控制电路分离：加湿系统管路与电源、控制器、电路板分离，可避免因管路漏水而影响电路，提高安全性。

4、可靠的冷冻及控制系统：欧美全封闭压缩机，进口环保冷媒，冷冻器件，LCD触摸屏控制器，界面友好，操作简单易学。

恒温恒湿试验箱适合电子、塑胶制品、电器、仪表、食品、车辆、金属、化学、建材、航天、医疗…等制品检测质量之用。

本机专门测试各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿的性能。本机可选择中文或英文液晶显示触控式屏幕画面，操作简单，程序编辑容易，人性化设计。可显示完整的系统操作状况相关数据、执行及设定程序曲线。运转中发生异常状况，屏幕即刻自动报警，显示故障原因及提供排除故障方法。

试验箱采用进口温控制仪，P.I.D高精度控制，杜绝*运行不稳定现象;为直观显示控制，摒弃原有温相对照的缺陷

显示分辩率

温度:0.1℃(显示范围)

时间:0.1min

:0.1%RH(温试验设备)

感温传感器:PT100铂金电阻测温体

控制方式:热平衡调温调湿方式

温控制采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制

具有自动演算的功能，可将温变化条件立即修正，使温控制更为精确稳定