硬盘芯片冲击箱高低温冷热冲击试验箱

硬盘芯片冲击箱高低温冷热冲击试验箱

1.造型设计：圆弧造型及表面喷塑处理，高质感外观，更显洁净美观。
2.箱体内胆采用(SUS304)不锈钢板。
3.箱体外壳采用A3钢板数控机床加工成型，造型美观大方。
4.观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察窗一个(300×200mm ).观察窗上安装照明灯。
5.本冷热冲击试验箱分为高温区、低温区、测试区三部分，具之断热结构及蓄热蓄冷效果。
6.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件的功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽或三槽之功能，具有高低温试验箱的功能。
7.试验时待测物静止，应用冷风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试试验。
8.保温材料采用防火和隔热高密度纤维棉。
9.测试区内附上下可调不锈钢盘两组，便于吊蓝上下转换的隔温性。
10.样品架承重量为：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱体左侧配Φ50mm测试孔一个，可供外接测试电源线或信号线使用。
12.冷热冲击试验箱箱体底部加装高质量承载PU活动轮，便于客户移动设备。

硬盘芯片冲击箱高低温冷热冲击试验箱

结构特点：
⒈高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，采用数控机床加工成型，并采用平面无反作用把手，操作容易简便。造型美观大方、新颖。
⒉长方形复层玻璃观窗口，大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用双层玻璃，随时清晰的观测试验中进行试验品，窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。
⒊箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。
⒋具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。
5.设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，***实验安全运行不发生意外。箱体左侧配直径50mm的测试孔。
6.冷热冲击试验箱箱体箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板或304B氩弧焊制作而成。

技术参数

内箱尺寸：35×35×40（可按客户要求定制）

外箱尺寸：151×182×142

试验方式：气动风门切换2温室或3温室方式

高温室预热温度范围：+60~+200℃

升温速率：+60→+200℃约20分钟

低温室预冷温度范围：-78→0℃

降温速率：+20→-75℃ 约70分钟

试验室温度偏差：±2℃

温度范围：A:-40℃~+150℃，B:-55℃~150℃，C:-65℃~+150℃

温度恢复时间：5分钟以内

试样搁架承载能力：30Kg

试样重量：5 Kg

材质：外壳防锈处理冷轧钢板(喷塑)或不锈钢板（SUS304）；内体为不锈钢板(SUS304) ，绝热材料为聚氨酯泡沫和玻璃纤维