驱动控制器快速温变试验箱

驱动控制器快速温变试验箱

快速温变试验箱

产品用途：快速温变试验箱适用于***工业,航空工业、自动化零组件,汽车部件,电子电器仪表零组件、电工产品,塑胶,化工业,食品业,制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。

产品执行及符合部分标准：

1、电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法GB 2423.1-2006 (IEC68-2-1)

2、电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）

3、GJB150.3（ML-STD-810D）高温试验方法

4、GJB150.4（MIL-STD-810D）低温试验方法

5、GB/T5170.2-96《温度试验设备》

6、GB/T10592-2008《高低温试验箱技术条件》

7、GB/T10589-2008《低温试验箱技术条件》

8、GB/T11158-2008《高温试验箱技术条件》

驱动控制器快速温变试验箱

快速温变试验箱，又称快速温变化试验箱、应力筛选试验箱，适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在快速高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的环境适应性试验，以及温度变化试验。

产品用途：

TEB系列快速温变试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效，温度变化率一般小于20℃/分，实现以快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差，或部件内应力较大时，温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。